Visuelle und elektrische Inspektion
– Inhouse sockelbasierter Test zur Prüfung von integrierten Schaltkreisen (ICs)
– Selektion und Verifikation von Chiprevisionen
– Flying Probe Test für bestückte Baugruppen
– Mikroskopische Die-Prüfung von Halbleitern
– Selektion von elektronischen Komponenten z.B. Toleranz, Güte
– Spezialprüfsysteme für Leistungshalbleiter, Kondensatoren und Relais
– IC Programmierung, frequenzspezifische Programmierung von Quarzoszillatoren (MEMS)
– IC Röntgenaufnahmen für visuelle Inspektion
– IC Tausch / Rework & Reparatur elektronischer Baugruppen
